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一鍵式閃測(cè)儀的優(yōu)點(diǎn)概述

更新時(shí)間:2022-11-29   點(diǎn)擊次數(shù):1108次

一、一鍵式閃測(cè)儀優(yōu)點(diǎn)如下:

1、工件的擺放可以比較任意,只要能夠在單一畫面內(nèi),不需要像傳統(tǒng)影像儀一樣去建立坐標(biāo)原點(diǎn)了,好處就是我們可以極大化的減少了一些工裝治具的定制了。

 

2、多個(gè)同款產(chǎn)品擺放完畢后,我們只需要選擇對(duì)應(yīng)產(chǎn)品的“程式",設(shè)備即實(shí)現(xiàn)了快速的全尺寸檢測(cè),非常之迅速,相較于傳統(tǒng)的影像設(shè)備,這種全尺寸的獲取更快更穩(wěn)定。

 

3、批量檢測(cè)的過程中,因?yàn)橐曇拜^大,產(chǎn)品較小,我們可以非常方便的篩選出不合格的產(chǎn)品,判斷不合格產(chǎn)品的效率大大提高了。

 

EG-50.jpg

 

 

二、一鍵式閃測(cè)儀特點(diǎn):

遠(yuǎn)心鏡頭(Telecentric),主要是為糾正傳統(tǒng)工業(yè)鏡頭視差而設(shè)計(jì),它可以在一定的物距范圍內(nèi),使得到的圖像放大倍率不會(huì)變化,這對(duì)被測(cè)物不在同一物面上的情況是非常重要的應(yīng)用。

 

也就是說“在一定的景深范圍內(nèi),可以無視差",這一特點(diǎn)非常重要,傳統(tǒng)光學(xué)設(shè)備在針對(duì)產(chǎn)品階梯工件的孔徑檢測(cè)時(shí),我們常規(guī)的測(cè)量步驟,我們首先針對(duì)最矮的臺(tái)階進(jìn)行聚焦,聚焦清楚之后,進(jìn)行孔徑測(cè)試,緊接著,我們移動(dòng)Z軸,聚焦第二臺(tái)階,聚焦清楚之后,進(jìn)行孔徑測(cè)試,第三臺(tái)階,我們依舊按照這個(gè)步驟,整個(gè)工件測(cè)試完成,常規(guī)的光學(xué)設(shè)備我們需要完成至少三次聚焦的動(dòng)作。


 

但是遠(yuǎn)心光學(xué)鏡頭在這個(gè)時(shí)候則極大的發(fā)揮了其優(yōu)勢(shì),在一定的景深范圍內(nèi),原先的聚焦動(dòng)作我們不需要再做了,我們?cè)谲浖缑嬷苯涌梢郧逦目吹秸麄€(gè)工件的俯視圖,階差在傳統(tǒng)光學(xué)設(shè)備上造成的不同面的模糊影像,在遠(yuǎn)心光學(xué)鏡頭上沒有一絲影響,這就是其優(yōu)勢(shì)在閃測(cè)上最大的貢獻(xiàn)。

 


 

三、一鍵式閃測(cè)儀應(yīng)用領(lǐng)域:密封圈,磁性產(chǎn)品,軸類零件,精密零件、彈簧、塑膠產(chǎn)品、機(jī)械加工產(chǎn)品。

 


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